隨著Omni的出現，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，實現在同一臺粒度分析儀中，既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，zui高可達40%wt；硬件PALS技術（與傳統基于頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應用，*解決了長期以來無法對諸如在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統方法沒有足夠的分辨率進行測量）的樣品進行分析的難題。

 

納米顆粒分析儀使用納米透視Nano-Insight 激光散射模塊，可以通過頂眼超顯微鏡觀測到液體中的納米粒子。采用不同激光散射顆粒在矩陣中表現為模糊點。模糊點根據其各自的布朗運動而移動。液體中有不同的布朗運動粒子。小粒子比大粒子受到相鄰粒子的影響更少。因此，在超顯微圖像中，較大的粒子有大的模糊外觀。 NTA能夠追蹤粒子的相應路徑。

 

納米顆粒分析儀納米觀測模塊

納米觀測模塊的設計，可以使其安裝在超顯微鏡，頂眼納米的底板。可以通過Mishell軟件來控制該模塊。Mishell軟件控制著納米觀測模塊以及照相機。根據應用決定在納米觀測模塊裝備一個或多個激光器。激光器以一種特殊的方式排列。左側圖片上展示的是納米觀測圖。較小的粒子比較大的粒子移動更快。我們用攝像機同時跟蹤每個粒子。